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Tipologia Anno Titolo Titolo inglese Autore File
Lauree triennali 2013 Caratterizzazione DC e dinamica di dispositivi di potenza su GaN - Grassi, Biagio
Lauree magistrali 2020 Spike-No Spike RF HEMTs comparison: reliability analysis Spike-No Spike RF HEMTs comparison: reliability analysis CULLARO CARBONARO, SALVATORE
Lauree magistrali 2011 Studio di affidabilità di GaN HEMT con lunghezze di gate submicrometriche (fino a 0,25um) - Bertin, Marco
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