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Tipologia Anno Titolo Titolo inglese Autore File
Lauree magistrali 2022 Gate Reliability of enhanced-mode p-GaN HEMTs Gate Reliability of enhanced-mode p-GaN HEMTs DISARÒ, MICHELE
Lauree magistrali 2023 OFF-state drain reliability of enhanced mode AlGaN/GaN power HEMTs: TDDB and avalanche processes OFF-state drain reliability of enhanced mode AlGaN/GaN power HEMTs: TDDB and avalanche processes DELL'ANDREA, MATTEO
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