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| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2022 | Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing | Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing | DE RIZ, MARCO | |
| Lauree magistrali | 2025 | Studio di fasci ad altissima energia per il test di eventi singoli su dispositivi elettronici. | Study of very-high-energy beams for single-event effects testing of electronic devices. | SORGATO, RICCARDO |
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