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Lauree triennali 2012 C'è tanto spazio tra zero e uno. Note sugli sviluppi della logica tra XIX e XX secolo - Abbatantuono, Emanuele
Lauree vecchio ordinamento (ante riforma) 2010 Calibrazione ed equalizzazione della sonda intensimetrica Microflown® - Celin, Mirco
Lauree specialistiche 2012 Cancellazione dell'eco acustica mediante filtraggio adattativo NLMS a filtri FIR e implementazione su DSP - Celin, Patrick
Lauree triennali 2010 Caratteristiche, tipologie ed applicazioni delle celle a combustibile - Marconi, Stefano
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione di Gate Oxide Monitor e strutture di protezione concentrate e distribuite per ESD in tecnologia BCD8 - Podetti, Emanuele
Lauree triennali 2013 Caratterizzazione di sensori di gas a semiconduttore - Giurda, Ruksana
Lauree triennali 2011 Caratterizzazione di un circuito di innesco per generatori ad impulso - Crivellaro, Davide
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione e affidabilità di LED verdi InGaN sottoposti a stress in polarizzazione diretta - Valdegamberi, Enrico
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione e ottimizzazione di un banco di test per prove EMC irradiate nella banda 2-6 GHz - Masieri, Francesco
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione elettrica e ottica di dispositivi in GaN con emissione nel blu e profondo ultravioletto - De Santi, Carlo
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione elettrica e studio dell'affidabilità di celle solari DSSC - Biasuzzi, Giovanni
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione mediante misure dinamiche e di elettroluminescenza di dispositivi AlGaN/GaN HEMT con elettrodo di gate trasparente - Bellesini, Mirko
Lauree specialistiche 2010 Caratterizzazione termica di lampade a LED per illuminazione civile - Manfrini, Andrea
Lauree specialistiche 2010 Characterization and reliability of advanced GaN-LED structures: LEDs on silicon and DEEP-UV LEDs - Barbisan, Diego
Lauree specialistiche 2010 Characterization and reliability of blue and white GaN-based LEDs submitted to current and thermal stress - Bugno, Paolo
Lauree specialistiche 2010 Characterization and reliability of NPD/ALQ3 OLEDS, submitted to thermal and electrical ageing - Framarin, Junior Jader
Lauree specialistiche 2010 Characterization of ESD protection structures for 65 nm CMOS technology - Di Biccari, Leonardo
Lauree specialistiche 2010 Collegamento alla rete PROFINET IO di una scheda per l'acquisizione di dati provenienti da un sistema di pesatura per macchine imbottigliatrici - Zoppellaro, Giuseppe
Lauree triennali 2010 Comportamento stocastico dell'inverter CMOS in regione di sottosoglia - Rovere, Giovanni
Lauree triennali 2010 Confronto tra diverse tipologie di stati di uscita - Negro, Stefano
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