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| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2020 | Caratterizzazione metrologica di strumenti ottici per misure di topografia superficiale | Metrological characterization of optical instruments for surface topography measurements | ZANOLLI, RICCARDO | |
| Lauree magistrali | 2020 | Leghe di Alluminio AA6061 per impieghi aeronautici: caratterizzazione e qualifica per l'accreditamento Nadcap | - | Zanolli, Riccardo |
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