Sfoglia per Autore
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2024 | Vision-based defect detection and quality control for semiconductor industry | Vision-based defect detection and quality control for semiconductor industry | BELTRAME, MIRCO |
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file ad accesso riservato
- file sotto embargo
- nessun file disponibile