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| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2023 | Reliability and trapping processes in GaN-based MOSCAPs with different atomic layer deposition (ALD) and pretreatment recipes. | Reliability and trapping processes in GaN-based MOSCAPs with different atomic layer deposition (ALD) and pretreatment recipes. | TOMASI, MARCO |
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