Sfoglia per Autore
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2020 | Deep Learning-based approaches for Defect Classification with context information in semiconductor manufacturing | Deep Learning-based approaches for Defect Classification with context information in semiconductor manufacturing | CUNI, PAULI |
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file ad accesso riservato
- file sotto embargo
- nessun file disponibile