In questo lavoro di tesi è stato studiato l’impatto di un disturbo sull’alimentazione di una cella SRAM sul tasso di errori dovuti a particelle ionizzanti (SER).

Impatto dei disturbi sull'alimentazione sul tasso di soft error di memorie SRAM

Cavaliere, Marco
2010/2011

Abstract

In questo lavoro di tesi è stato studiato l’impatto di un disturbo sull’alimentazione di una cella SRAM sul tasso di errori dovuti a particelle ionizzanti (SER).
2010-04-20
109
soft error, qualità, disturbi, sram
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/13405