In questo lavoro di tesi è stato studiato l’impatto di un disturbo sull’alimentazione di una cella SRAM sul tasso di errori dovuti a particelle ionizzanti (SER).
Impatto dei disturbi sull'alimentazione sul tasso di soft error di memorie SRAM
Cavaliere, Marco
2010/2011
Abstract
In questo lavoro di tesi è stato studiato l’impatto di un disturbo sull’alimentazione di una cella SRAM sul tasso di errori dovuti a particelle ionizzanti (SER).File in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/13405