Experimental characterization of Gallium Oxide lateral MOSFETs and modelling of parameter instabilities.

BRUSATERRA, ENRICO
2020/2021

2020
Experimental characterization of Gallium Oxide lateral MOSFETs and modelling of parameter instabilities.
Gallium
Oxide
Ga2O3
MOSFET
Trapping
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/1671