Experimental characterization and modelling of innovative semi-vertical gallium nitride (GaN) devices on silicon (Si) substrate

FAVERO, DAVIDE
2020/2021

2020
Experimental characterization and modelling of innovative semi-vertical gallium nitride (GaN) devices on silicon (Si) substrate
semi-vertical GaN
GaN-on-Si
MOS capacitors
MOSFETs
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/1718