Temperature Effects on Soft Error Rate Due to Atmospheric Neutrons on 28 nm FPGAs

In ambiti come l'avionica e l'automotive e' difficile garantire un'alta affidabilita' dell'elettronica per la presenza di radiazione. In tale lavoro sperimentale su FPGA si vuole tracciare una relazione fra il tasso di Single Event Upset dovuti a neutroni atmosferici nelle memorie SRAM e la frequenza di funzionamento del circuito. I risultati mostrano che e' difficile avere una spiegazione teorica del fenomeno e che il tasso di SEU e' legato più alla temperatura del ciruito che alla frequenza.