La tomografia computerizzata (Computed Tomomography, CT) e l’additive manufacturing (AM) sono due realtà innovative nel panorama industriale. In questo lavoro si è analizzata la metrologia CT per l'AM. Sono stati descritti due casi studio industriali e si è determinata sperimentalmente l'esistenza di un errore sistematico dovuto alla rugosità nelle misure dimensionali CT. Si è infine proposto un nuovo metodo per il calcolo dell'incertezza di misura basato sulla norma ISO 15530-3
Metrologia CT per l'Additive Manufacturing: studio di applicazioni industriali e analisi dell'influenza della rugosità sull'incertezza di misura.
Gianesini, Nicolò
2015/2016
Abstract
La tomografia computerizzata (Computed Tomomography, CT) e l’additive manufacturing (AM) sono due realtà innovative nel panorama industriale. In questo lavoro si è analizzata la metrologia CT per l'AM. Sono stati descritti due casi studio industriali e si è determinata sperimentalmente l'esistenza di un errore sistematico dovuto alla rugosità nelle misure dimensionali CT. Si è infine proposto un nuovo metodo per il calcolo dell'incertezza di misura basato sulla norma ISO 15530-3File in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/19671