Descrizione del funzionamento degli HEMT al nitruro di gallio. Risultati delle misure DC, dinamiche(Double Pulse) e degli step-stress eseguiti. Studio del kink

Studio di affidabilità di GaN HEMT con lunghezze di gate submicrometriche (fino a 0,25um)

Bertin, Marco
2011/2012

Abstract

Descrizione del funzionamento degli HEMT al nitruro di gallio. Risultati delle misure DC, dinamiche(Double Pulse) e degli step-stress eseguiti. Studio del kink
2011-04-18
131
HEMT, double pulse, kink, step-stress, GaN, nitruro di gallio
Rampazzo, Fabiana
Lauree magistrali
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/28617