Il presente lavoro di tesi è rivolto allo studio e alla caratterizzazione dei meccanismi di degrado che si verificano in dispositivi LED basati sul nitruro di gallio. In particolare, inizialmente, è stata caratterizzata una semplice giunzione p-n. Successivamente sono state analizzate altre tre differenti giunzioni progettate con una struttura a due buche quantiche.
Analisi dei processi di degrado di strutture LED e diodi p-n con electron blocking layer basati su nitruro di gallio
Zecchin, Lorenzo
2020/2021
Abstract
Il presente lavoro di tesi è rivolto allo studio e alla caratterizzazione dei meccanismi di degrado che si verificano in dispositivi LED basati sul nitruro di gallio. In particolare, inizialmente, è stata caratterizzata una semplice giunzione p-n. Successivamente sono state analizzate altre tre differenti giunzioni progettate con una struttura a due buche quantiche.File in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/28834