Studio dell'affidabilità e caratterizzazione dei fenomeni di intrappolamento di carica in dispositivi in diamante per applicazioni di potenza

In questo lavoro sono stati studiati i fenomeni di intrappolamento nei dispositivi MESFET su un substrato in diamante con la terminazione della superficie in idrogeno mediante id-vg e id-vd campionate rapide al variare della temperatura. Lo studio dell'affidabilità  è stato eseguito mediante degli stress aumentando la tensione di stress oppure il tempo di stress, eseguendo anche delle misure di elettroluminescenza per vedere l'emissione del dispositivo.