This thesis work is the result of an internship at the Microcontroller division of Infineon's Development Center in Padua. The aim of the internship was to develop bitmapping tools that will enable efficient generation of failure bitmaps on test machines used to test NVM in microcontrollers. The first step was to analyze the toolchain already in use, for bitmapping operations, and to identify the areas in which an improvement was needed: the extraction of bitmaps was taking too long on test machines, as well as the analysis and processing of the extracted data. Dedicated software tools were then developed in order tackle such issues, integrated in the existing toolchain and tested. The development was done with a modular, scalable and product-independent approach, in order to maximize its reusability also on future NVM products with minimum effort. Finally, the validation and testing was done comparing the results with the previously existing tools. The software tools implemented during this thesis are already used by the team, allowing to strongly reduce data generation and analysis time.

Questo lavoro di tesi è il risultato del tirocinio effettuato nella divisione Microcontrollori del centro di Ricerca e Sviluppo di Padova di Infineon Technologies. Lo scopo del tirocinio era di sviluppare dei bitmapping tool per abilitare la generazione di failure bitmaps su macchine di test usate per testare memorie non volatili nei microcontrollori. Il primo passo è stato analizzare la toolchain, responsabile delle operazioni di bitmapping, e identificare le aree in cui era necessario un miglioramento: l'estrazione delle bitmap sulle macchine di test e il processamento dei dati estratti richiedevano molto tempo. Al fine di risolvere tali problemi, dei software tool sono stati sviluppati, integrati nella toolchain esistente ed infine testati. Lo sviluppo ha seguito un approccio modulare, indipendente dal prodotto e scalabile, al fine di massimizzare l'utilizzo dei tool per dei futuri prodotti NVM con il minimo sforzo. Successivamente, essi sono stati validati e testati confrontando i risultati con dei tool esistenti. I software tool sviluppati in questo lavoro di tesi sono già stati usati dal team al fine di ridurre la generazione dei dati e il tempo di analisi.

DEVELOPMENT OF BITMAPPING TOOLS FOR ACCELERATED FAILURE ANALYSIS ON AUTOMATIC TEST EQUIPMENT

REPELE, ALBERTO
2021/2022

Abstract

This thesis work is the result of an internship at the Microcontroller division of Infineon's Development Center in Padua. The aim of the internship was to develop bitmapping tools that will enable efficient generation of failure bitmaps on test machines used to test NVM in microcontrollers. The first step was to analyze the toolchain already in use, for bitmapping operations, and to identify the areas in which an improvement was needed: the extraction of bitmaps was taking too long on test machines, as well as the analysis and processing of the extracted data. Dedicated software tools were then developed in order tackle such issues, integrated in the existing toolchain and tested. The development was done with a modular, scalable and product-independent approach, in order to maximize its reusability also on future NVM products with minimum effort. Finally, the validation and testing was done comparing the results with the previously existing tools. The software tools implemented during this thesis are already used by the team, allowing to strongly reduce data generation and analysis time.
2021
DEVELOPMENT OF BITMAPPING TOOLS FOR ACCELERATED FAILURE ANALYSIS ON AUTOMATIC TEST EQUIPMENT
Questo lavoro di tesi è il risultato del tirocinio effettuato nella divisione Microcontrollori del centro di Ricerca e Sviluppo di Padova di Infineon Technologies. Lo scopo del tirocinio era di sviluppare dei bitmapping tool per abilitare la generazione di failure bitmaps su macchine di test usate per testare memorie non volatili nei microcontrollori. Il primo passo è stato analizzare la toolchain, responsabile delle operazioni di bitmapping, e identificare le aree in cui era necessario un miglioramento: l'estrazione delle bitmap sulle macchine di test e il processamento dei dati estratti richiedevano molto tempo. Al fine di risolvere tali problemi, dei software tool sono stati sviluppati, integrati nella toolchain esistente ed infine testati. Lo sviluppo ha seguito un approccio modulare, indipendente dal prodotto e scalabile, al fine di massimizzare l'utilizzo dei tool per dei futuri prodotti NVM con il minimo sforzo. Successivamente, essi sono stati validati e testati confrontando i risultati con dei tool esistenti. I software tool sviluppati in questo lavoro di tesi sono già stati usati dal team al fine di ridurre la generazione dei dati e il tempo di analisi.
BITMAPPING TOOLS
FAILURE ANALYSIS
DEVELOPMENT
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