Il progetto si propone di analizzare le prestazioni ottiche di film sottili (monolayer e bilayer) di metallo e ossidi di metallo, depositati con la tecnica EBPVD e tipicamente utilizzati per applicazioni spaziali. Tali campioni sono stati studiati nelle fasi di pre-irraggiamento e post-irraggiamento da protoni a varie energie, fluenze e flussi, al fine di simulare l'esposizione al Quiet Solar Wind, alle Fasce di Van Allen e al Coronal Mass Ejection presenti nell'ambiente spaziale. Le misurazioni sono state successivamente confrontate tramite il calcolo dei valori RMSE tra le curve di riflettanza e tra le curve di trasmittanza, prima e dopo l'irraggiamento. Il progetto si presta inoltre alla valutazione, sempre a livello di prestazioni ottiche, dell'evoluzione del danno in funzione della temperatura su un subset di campioni irraggiati. Ai fini della caratterizzazione sono stati utilizzati uno spettrofotometro UV-VIS-NIR, un microscopio a forza atomica e un diffrattometro per l'analisi XRD.

Modifica delle proprietà fisiche di film sottili ottici irradiati con fasci di protoni

ANIA, CHIARA
2023/2024

Abstract

Il progetto si propone di analizzare le prestazioni ottiche di film sottili (monolayer e bilayer) di metallo e ossidi di metallo, depositati con la tecnica EBPVD e tipicamente utilizzati per applicazioni spaziali. Tali campioni sono stati studiati nelle fasi di pre-irraggiamento e post-irraggiamento da protoni a varie energie, fluenze e flussi, al fine di simulare l'esposizione al Quiet Solar Wind, alle Fasce di Van Allen e al Coronal Mass Ejection presenti nell'ambiente spaziale. Le misurazioni sono state successivamente confrontate tramite il calcolo dei valori RMSE tra le curve di riflettanza e tra le curve di trasmittanza, prima e dopo l'irraggiamento. Il progetto si presta inoltre alla valutazione, sempre a livello di prestazioni ottiche, dell'evoluzione del danno in funzione della temperatura su un subset di campioni irraggiati. Ai fini della caratterizzazione sono stati utilizzati uno spettrofotometro UV-VIS-NIR, un microscopio a forza atomica e un diffrattometro per l'analisi XRD.
2023
Modification of the physical properties of optical thin films irradiated with proton beams
thin films
protons
damage
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/64601