Una delle sollecitazioni meccaniche più gravose a cui un satellite è soggetto durante il lancio in orbita è lo shock. Lo shock è un carico impulsivo causato in generale dal distacco degli stadi e del satellite dal lanciatore. Il carico di shock può arrivare anche a più di 1000 g e raggiungere le altissime frequenze, anche fino a 10000 Hz, mettendo in crisi i componenti più critici come componenti elettronici saldati e ottiche. Esistono varie tecniche di analisi che permettono di studiare la dinamica del sistema quando è sottoposto a un carico shock e vari tipi di shock test da eseguire sui modelli di sviluppo. Essendo spesso le metodologie analitiche limitate ed essendo le modalità di test fortemente impattanti sulla buona riuscita delle qualifiche, occorre definire procedure analitiche e linee guida per la progettazione dei setup per i test shock atti a controllare i livelli che arrivano ai componenti critici e ad evitare che si rompano a causa di risposte e amplificazioni incontrollate. La tesi prevede quindi uno studio bibliografico sull’argomento, con particolare attenzione alle linee guida redatte dall’ESA e all’handbook ECSS-E-HB-32-25A. A seguire si prende visione dei modelli FEM e dei relativi test report degli strumenti già sviluppati in Leonardo e che sono stati soggetti a qualifica shock, in maniera da eseguire delle analisi e correlare quanto è stato visto durante il test con i risultati analitici. Infine si da un contributo sulle predizioni analitiche e sulla definizione della procedura e del setup dei test a shock sullo strumento ottico TIR della missione Platino TIR.
Definizione delle procedure e delle analisi di predizione finalizzate al controllo delle risposte dinamiche di strutture di sistemi spaziali durante i test di qualifica a shock
BORGATO, ELISA
2023/2024
Abstract
Una delle sollecitazioni meccaniche più gravose a cui un satellite è soggetto durante il lancio in orbita è lo shock. Lo shock è un carico impulsivo causato in generale dal distacco degli stadi e del satellite dal lanciatore. Il carico di shock può arrivare anche a più di 1000 g e raggiungere le altissime frequenze, anche fino a 10000 Hz, mettendo in crisi i componenti più critici come componenti elettronici saldati e ottiche. Esistono varie tecniche di analisi che permettono di studiare la dinamica del sistema quando è sottoposto a un carico shock e vari tipi di shock test da eseguire sui modelli di sviluppo. Essendo spesso le metodologie analitiche limitate ed essendo le modalità di test fortemente impattanti sulla buona riuscita delle qualifiche, occorre definire procedure analitiche e linee guida per la progettazione dei setup per i test shock atti a controllare i livelli che arrivano ai componenti critici e ad evitare che si rompano a causa di risposte e amplificazioni incontrollate. La tesi prevede quindi uno studio bibliografico sull’argomento, con particolare attenzione alle linee guida redatte dall’ESA e all’handbook ECSS-E-HB-32-25A. A seguire si prende visione dei modelli FEM e dei relativi test report degli strumenti già sviluppati in Leonardo e che sono stati soggetti a qualifica shock, in maniera da eseguire delle analisi e correlare quanto è stato visto durante il test con i risultati analitici. Infine si da un contributo sulle predizioni analitiche e sulla definizione della procedura e del setup dei test a shock sullo strumento ottico TIR della missione Platino TIR.File | Dimensione | Formato | |
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/66858