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Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
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Lauree magistrali | 2017 | Studies for a proton tomography scanner | - | Baruffaldi, Filippo | |
Lauree triennali | 2015 | Caratterizzazione pre e post irraggiamento di transistor in tecnologia CMOS 65 nm | - | Baruffaldi, Filippo |
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