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| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree magistrali | 2010 | Caratterizzazione e affidabilità di transistor ad elevata mobilità AlGaN/GaN con gate trasparente in Indium-Tin-Oxide (ITO) | - | Rossetto, Isabella |
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