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Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
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Lauree magistrali | 2022 | Caratterizzazione di specchi di SiO₂/Ta₂O₅ per interferometria gravitazionale mediante spettromicroscopia di fotoemissione a raggi X | Characterization of SiO₂/Ta₂O₅ mirrors for gravitational interferometry using X-ray photoemission spectromicroscopy | D'UBALDO, DARIO |
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