Caratterizzazione di specchi di SiO₂/Ta₂O₅ per interferometria gravitazionale mediante spettromicroscopia di fotoemissione a raggi X

Nel presente lavoro di tesi si espongono le analisi effettuate su specchi di silica/tantala per interferometria gravitazionale mediante spettromicroscopia di fotoemissione a raggi X (XPS). L'European Gravitational Observatory ha fornito i campioni, specificando che, a seguito del prolungato utilizzo in vuoto, gli specchi subiscono un calo prestazionale, ma che è altrettanto possibile riprestinare le funzionalità ottimali dei campioni con una procedura di pulizia della superficie basata su trattamenti termici. Si è utilizzata la tecnica XPS mediante un protocollo di misure su un area di un centimetro quadrato e risoluzione un millimetro quadrato. Sono state effettuate misure anche a seguito di bombardamento ionico per quantificare il segnale dovuto effettivamente al contaminante nonché la sua permeazione. A complemento, si sono effettuate misure mediante microscopia AFM e spettroscopia Raman. L'analisi della superficie degli specchi evidenzia la presenza di formazioni difettuali e di carbonio contaminante, non riscontrato nel bulk. I risultati mostrano una correlazione tra l'incremento di carbonio contaminante e il calo prestazionale dei campioni.