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Degradation processes in color coded GaN-based structures: impact on efficiency and optical properties
2019/2020 Dalla Torre, Francesco
Studio dei fenomeni di degradazione di dispositivi HEMT su GaN sottoposti a stress in corrente
2010/2011 Corraini, Sebastiano
Studio del breakdown di dispositivi GaN HEMT di potenza
2013/2014 Cibin, Giulia
Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
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Lauree magistrali | 2019 | Degradation processes in color coded GaN-based structures: impact on efficiency and optical properties | - | Dalla Torre, Francesco | |
Lauree specialistiche | 2010 | Studio dei fenomeni di degradazione di dispositivi HEMT su GaN sottoposti a stress in corrente | - | Corraini, Sebastiano | |
Lauree magistrali | 2013 | Studio del breakdown di dispositivi GaN HEMT di potenza | - | Cibin, Giulia |
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