Sfoglia per Correlatore
| Tipologia | Anno | Titolo | Titolo inglese | Autore | File |
|---|---|---|---|---|---|
| Lauree specialistiche | 2010 | Studio dei fenomeni di degradazione di dispositivi HEMT su GaN sottoposti a stress in corrente | - | Corraini, Sebastiano | |
| Lauree magistrali | 2013 | Studio del breakdown di dispositivi GaN HEMT di potenza | - | Cibin, Giulia |
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