Questo lavoro di tesi analizza le metodologie di ottimizzazione delle aberrazioni nei microscopi elettronici a scansione (SEM) per superare i limiti della microscopia ottica

Analisi delle metodologie di ottimizzazione delle aberrazioni nei microscopi elettronici a scansione

COHEN AMIN, YARDEN
2025/2026

Abstract

Questo lavoro di tesi analizza le metodologie di ottimizzazione delle aberrazioni nei microscopi elettronici a scansione (SEM) per superare i limiti della microscopia ottica
2025
Analysis of Aberration Optimization Methodologies in Scanning Electron Microscopes
SEM
Abberations
Optics
Lauree triennali
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/114237