Sviluppo di un sistema per il test di memorie NAND e PCM basato su FPGA

Tutti i dispositivi a semiconduttore sono costantemente sottoposti ad irraggiamenti di particelle energetiche di varia natura; le fonti principali sono: onde elettromagnetiche irradiate dai circuiti presenti nelle vicinanze, radiazioni cosmiche e particelle emesse chip e dai package in cui i circuiti di silicio sono contenuti. In determinate condizioni questi irraggiamenti possono essere causa di malfunzionamenti e, soprattutto nei circuiti che sfruttano le tecnologie CMOS, possono generare problemi non trascurabili