Tutti i dispositivi a semiconduttore sono costantemente sottoposti ad irraggiamenti di particelle energetiche di varia natura; le fonti principali sono: onde elettromagnetiche irradiate dai circuiti presenti nelle vicinanze, radiazioni cosmiche e particelle emesse chip e dai package in cui i circuiti di silicio sono contenuti. In determinate condizioni questi irraggiamenti possono essere causa di malfunzionamenti e, soprattutto nei circuiti che sfruttano le tecnologie CMOS, possono generare problemi non trascurabili
Sviluppo di un sistema per il test di memorie NAND e PCM basato su FPGA
Giovanelli, Davide
2011/2012
Abstract
Tutti i dispositivi a semiconduttore sono costantemente sottoposti ad irraggiamenti di particelle energetiche di varia natura; le fonti principali sono: onde elettromagnetiche irradiate dai circuiti presenti nelle vicinanze, radiazioni cosmiche e particelle emesse chip e dai package in cui i circuiti di silicio sono contenuti. In determinate condizioni questi irraggiamenti possono essere causa di malfunzionamenti e, soprattutto nei circuiti che sfruttano le tecnologie CMOS, possono generare problemi non trascurabiliFile in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/13854