Il continuo scaling dei MOSFET ha comportato, oltre ai benefici di maggior integrazione, capacità computazionale e maggior funzionalità, un aumento preoccupante del consumo di potenza dei circuiti. Ciò è dovuto sia ad una componente dinamica, causata dallo switch dei singoli dispositivi, sia ad una componente statica, cioè provocata da correnti di perdita, la cui intensità è aumentata con la diminuzione delle dimensioni dei transistor. In questo lavoro vengono analizzate velocemente le principali cause di consumo statico e i fattori che maggiormente le influenzano. Successivamente vengono presentate varie tecniche utili alla riduzione del consumo di potenza, sia della componente dinamica che di quella statica e che agiscono a diversi livelli di astrazione

Dissipazione di potenza nei circuiti CMOS: origini e tecniche per la riduzione

Bruni, Giovanni
2011/2012

Abstract

Il continuo scaling dei MOSFET ha comportato, oltre ai benefici di maggior integrazione, capacità computazionale e maggior funzionalità, un aumento preoccupante del consumo di potenza dei circuiti. Ciò è dovuto sia ad una componente dinamica, causata dallo switch dei singoli dispositivi, sia ad una componente statica, cioè provocata da correnti di perdita, la cui intensità è aumentata con la diminuzione delle dimensioni dei transistor. In questo lavoro vengono analizzate velocemente le principali cause di consumo statico e i fattori che maggiormente le influenzano. Successivamente vengono presentate varie tecniche utili alla riduzione del consumo di potenza, sia della componente dinamica che di quella statica e che agiscono a diversi livelli di astrazione
2011-09-27
52
CMOS, corrente di sottosoglia, dynamic vth, finfet, multiple supply voltage, multiple vth, scaling, tecniche per la riduzione del consumo, transistor stack
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origins_and_reduction_techniques_of_power_dissipation_in_cmos_ics.pdf

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/15048