In tale elaborato, dopo una breve introduzione sull’architettura dei microprocessori e dei loro principali componenti, verrà dato particolare rilievo ai meccanismi che si instaurano nei circuiti integrati, in particolare nei transistor MOSFET, in seguito all’impatto con le radiazioni. Successivamente verranno proposte numerose tecniche di hardening sia riguardanti l’utilizzo di un particolare processo di fabbricazione sia focalizzate su una riorganizzazione del layout. Tali tecniche riguarderanno sia i singoli transistor, sia i componenti base che si ritrovano all’interno dei microprocessori come ad esempio le memorie SRAM e i registri

Affidabilità di SRAM e microprocessori in ambiente spaziale

Miccoli, Beatrice
2012/2013

Abstract

In tale elaborato, dopo una breve introduzione sull’architettura dei microprocessori e dei loro principali componenti, verrà dato particolare rilievo ai meccanismi che si instaurano nei circuiti integrati, in particolare nei transistor MOSFET, in seguito all’impatto con le radiazioni. Successivamente verranno proposte numerose tecniche di hardening sia riguardanti l’utilizzo di un particolare processo di fabbricazione sia focalizzate su una riorganizzazione del layout. Tali tecniche riguarderanno sia i singoli transistor, sia i componenti base che si ritrovano all’interno dei microprocessori come ad esempio le memorie SRAM e i registri
2012-09-28
55
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/15785