In tale elaborato, dopo una breve introduzione sull’architettura dei microprocessori e dei loro principali componenti, verrà dato particolare rilievo ai meccanismi che si instaurano nei circuiti integrati, in particolare nei transistor MOSFET, in seguito all’impatto con le radiazioni. Successivamente verranno proposte numerose tecniche di hardening sia riguardanti l’utilizzo di un particolare processo di fabbricazione sia focalizzate su una riorganizzazione del layout. Tali tecniche riguarderanno sia i singoli transistor, sia i componenti base che si ritrovano all’interno dei microprocessori come ad esempio le memorie SRAM e i registri
Affidabilità di SRAM e microprocessori in ambiente spaziale
Miccoli, Beatrice
2012/2013
Abstract
In tale elaborato, dopo una breve introduzione sull’architettura dei microprocessori e dei loro principali componenti, verrà dato particolare rilievo ai meccanismi che si instaurano nei circuiti integrati, in particolare nei transistor MOSFET, in seguito all’impatto con le radiazioni. Successivamente verranno proposte numerose tecniche di hardening sia riguardanti l’utilizzo di un particolare processo di fabbricazione sia focalizzate su una riorganizzazione del layout. Tali tecniche riguarderanno sia i singoli transistor, sia i componenti base che si ritrovano all’interno dei microprocessori come ad esempio le memorie SRAM e i registriFile | Dimensione | Formato | |
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https://hdl.handle.net/20.500.12608/15785