Introduzione ai soft error esplorandone origini, effetti e la loro mitigazione nella moderna industria elettronica. La tesi conclude con l’analisi di una serie di test eseguiti sull’architettura IBM POWER6 (microprocessore e I/O hub).

Effetti dei Soft error nei circuiti integrati

Zanetello, Federico
2013/2014

Abstract

Introduzione ai soft error esplorandone origini, effetti e la loro mitigazione nella moderna industria elettronica. La tesi conclude con l’analisi di una serie di test eseguiti sull’architettura IBM POWER6 (microprocessore e I/O hub).
Scuola di Ingegneria
2013-02-25
soft error, soft errors, circuiti integrati, integrated circuits, IC, large scale integration, LTI, raggi cosmici, cosmic rays, particelle alfa, raggi alfa, elioni, alpha particle, SOI transistor, bulk transistor, flip-flop, SRAM, single event upset, SEU, soft error rate, SER, mitigazione, mitigation, IBM POWER6, I/O hub
Lauree triennali
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
tesi.pdf

accesso aperto

Dimensione 2.23 MB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
2.23 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

The text of this website © Università degli studi di Padova. Full Text are published under a non-exclusive license. Metadata are under a CC0 License

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/16033