Uno dei parametri che influenza quasi tutti i processi chimico fisici è la temperatura, perciò rappresenta uno strumento utile per determinare l'affidabilità di un dispositivo elettronico. In questa relazione si descrivono i metodi per misurare la temperatura di dispositivi a semiconduttore. In seguito vengono analizzati più in dettaglio la termografia a infrarosso e Raman.Infine si confrontano i vantaggi delle due tecniche applicate su dispositivi AlGaN/GaN

Termografia applicata all'elettronica

Ruzzarin, Maria
2013/2014

Abstract

Uno dei parametri che influenza quasi tutti i processi chimico fisici è la temperatura, perciò rappresenta uno strumento utile per determinare l'affidabilità di un dispositivo elettronico. In questa relazione si descrivono i metodi per misurare la temperatura di dispositivi a semiconduttore. In seguito vengono analizzati più in dettaglio la termografia a infrarosso e Raman.Infine si confrontano i vantaggi delle due tecniche applicate su dispositivi AlGaN/GaN
2013-09-30
termografia, infrarosso, raman, affidabilità
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
tesi_triennale_termografia_applicata_all'elettronica-_Maria_Ruzzarin_612682.pdf

accesso aperto

Dimensione 334.75 kB
Formato Adobe PDF
334.75 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

The text of this website © Università degli studi di Padova. Full Text are published under a non-exclusive license. Metadata are under a CC0 License

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.12608/17398