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Lauree magistrali 2023 Impatto delle ispezioni a raggi X sulle prestazioni e sull'affidabilità di memorie a semiconduttore Impact of X-ray inspections on the performance and reliability of semiconductor memories MANNI, ANDREA
Lauree magistrali 2022 Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing DE RIZ, MARCO
Lauree magistrali 2025 Studio di fasci ad altissima energia per il test di eventi singoli su dispositivi elettronici. Study of very-high-energy beams for single-event effects testing of electronic devices. SORGATO, RICCARDO
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