Sfoglia per Correlatore
Impatto dei disturbi sull'alimentazione sul tasso di soft error di memorie SRAM
2010/2011 Cavaliere, Marco
Memorie magnetiche integrate
2012/2013 Cherubin, Matteo
Ossidi ad alta costante dielettrica come dielettrico di gate per transistor MOS
2012/2013 Belgioioso, Giuseppe
Progetto e realizzazione di prove vita accelerate per schede elettroniche in una linea industriale di fabbricazione di lavabiancheria
2015/2016 Gasparini, Giacomo
Propagazione di single-event transients in logiche combinatorie
2010/2011 Bevilacqua, Andrea
Sensori di immagine CCD e CMOS
2012/2013 Dall'Alba, Carlo
Simulazione degli effetti di radiazione ionizzante su pompe di carica per memorie flash
2010/2011 Dal Canale, Stefano
Simulazioni per lo studio degli effetti da evento singolo su SRAM con ISE TCAD
2010/2011 Cappellari, Elisa
Statistical analysis of Total Ionizing Dose response in 25-nm NAND Flash memory
2014/2015 Ferrarese, Federica
Sviluppo di una periferica hardware per misure di soft error su SRAM
2012/2013 Dalla Bontà, Stefano
Test di radiazioni su processori per uso spaziale
2011/2012 Astarita, Matia
Una prospettiva sulla spintronica. An outlook on spintronics
2012/2013 Peruffo, Andrea
Una suite di test per valutare gli effetti della radiazione cosmica sul microprocessore PowerPC 7448
2011/2012 Facchin, Martino
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