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Acceleratori per intelligenza artificiale : architetture analogiche vs digitali
2023/2024 DI TILLO, ANDREA
Affidabilità e degrado di LED a bassa potenza per applicazioni di illuminotecnica
2014/2015 Buffolo, Matteo
Analisi dei fenomeni di intrappolamento su dispositivi HEMT su GaN con diverso profilo di Fe-doping nel buffer
2012/2013 Torresan, Federico
Analisi dei meccanismi di degrado di diodi laser blu-ray sottoposti a prove di invecchiamento accelerato
2012/2013 De Lazzari, Andrea
Analisi dei processi di emissione legati ai difetti e dell'affidabilità di LED verdi InGaN/GaN sottoposti a stress in polarizzazione diretta e inversa
2010/2011 Vaccari, Simone
Analisi dei processi di ricombinazione in diodi LED basati su GaN: caratterizzazione ottica e misure DLTS
2013/2014 La Grassa, Marco
Analisi della stabilità di due generazioni di transistor GaN HEMT per applicazioni spaziali
2013/2014 Dalcanale, Stefano
Analisi delle tecniche di attacco e di difesa dei sistemi di autenticazione e autorizzazione
2021/2022 SANGUINETTI, FEDERICO
Analisi mediante misure ottiche e termiche di LED basati su multi quantum well e nanowire
2012/2013 Garbujo, Alessio
Analysis of High Electron Mobility Transistors for 5G communications, based on GaN with different epitaxial substrates
2022/2023 DE PIERI, FRANCESCO
Caratterizzazione e affidabilità di laser in GaN ad elevata efficienza
2013/2014 Carraro, Simone
Caratterizzazione e affidabilità di LED verdi InGaN sottoposti a stress in polarizzazione diretta
2010/2011 Valdegamberi, Enrico
Caratterizzazione e affidabilità di transistor ad elevata mobilità AlGaN/GaN con gate trasparente in Indium-Tin-Oxide (ITO)
2010/2011 Rossetto, Isabella
Caratterizzazione e studio di affidabilità di LED bianchi ad alta efficienza per applicazioni di backlighting
2011/2012 Sterchele, Michael
Caratterizzazione elettrica e ottica di dispositivi in GaN con emissione nel blu e profondo ultravioletto
2010/2011 De Santi, Carlo
Caratterizzazione termica di lampade a LED per illuminazione civile
2010/2011 Manfrini, Andrea
Caratterizzazione termica ed affidabilità di Power Amplifier in GaAs per applicazioni a radio-frequenza
2012/2013 Ronzani, Luca
Characterization and reliability of advanced GaN-LED structures: LEDs on silicon and DEEP-UV LEDs
2010/2011 Barbisan, Diego
Characterization and reliability of blue and white GaN-based LEDs submitted to current and thermal stress
2010/2011 Bugno, Paolo
Characterization and reliability of GaN Laser Diodes emitting in the blue, skyblue and violet visible regions
2012/2013 Bugno, Alessandro
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