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Lauree triennali 2020 Applicazione di un approcio formale per la verifica di circuiti digitali abilitati alla sicurezza Application of a formal approach to the verification of safety enabled digital circuits RASCACCI, LUCA
Lauree magistrali 2019 Degradation and Dose-Rate Dependence in Decananometer MOSFETs Exposed to Ultra-High Levels of Total Ionizing Dose - Costanzo, Sebastiano
Lauree magistrali 2021 Extension of an industrial FMEDA tool with customization according to system set-up and environmental conditions Extension of an industrial FMEDA tool with customization according to system set-up and environmental conditions MION, FEDERICO
Lauree magistrali 2023 Impatto delle ispezioni a raggi X sulle prestazioni e sull'affidabilità di memorie a semiconduttore Impact of X-ray inspections on the performance and reliability of semiconductor memories MANNI, ANDREA
Lauree magistrali 2016 Investigation of Total Ionizing Dose Eects on Semiconductor Power Devices under Static and Dynamic Conditions. Studio degli Effetti della Dose Totale delle Radiazioni Ionizzanti sui Dispositivi di Potenza a Semiconduttore in Condizioni Statiche e Dinamiche - Valente, Eugenio
Lauree triennali 2020 Progettazione di un modulo di collaudo per memorie magnetoresistive Design of a tester for magnetoresistive memories ENE, LACRAMIOARA DENISA
Lauree magistrali 2022 Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing Screening procedure optimization for flash memory retention during production testing DE RIZ, MARCO
Lauree magistrali 2020 Studio degli effetti causati da ioni ad altissima energia nei volumi nanometrici di memorie a semiconduttore per applicazioni spaziali. Study of the effects caused by very high energy ions in the nanometric volumes of semiconductor memories for space applications. GIORDANO, DANIELE
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